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镀铝膜测厚仪

发布时间:2024-07-24 16:42:03      发布人:三泉中石  浏览量:247

  镀铝膜作为一种复合软包装材料,结合了塑料薄膜和金属的优点,被广泛应用于各类包装行业。其厚度是直接影响包装质量和性能的重要指标之一。三泉中石GB/T15717镀铝膜测厚仪是一款专门设计用于测量镀铝薄膜厚度的仪器,符合GB/T 15717-1995标准要求,能够精确测量镀铝膜的厚度、均匀度和电阻值。

  测试原理

  三泉中石镀铝膜测厚仪采用电阻法测量金属镀层的厚度,依据欧姆定律测量试样金属镀层的电阻值。根据电阻值计算出金属镀层的实际厚度,或直接显示方块电阻,从而反映出镀铝膜的厚度情况。

镀铝膜测厚仪

  技术参数与特征

  •   厚度测量范围:50-570 Å

  •   方块电阻测量范围:0.5-5Ω

  •   方块电阻测量精度:±1%

  •   样品尺寸:100×100mm

  •   夹样精度:±0.1mm

  •   测温范围:0~50℃,精度±1℃

  •   外形尺寸:370mm×330mm×450mm (长宽高)

  •   重量:19kg

  •   工作温度:23℃±2℃

  •   工作电源:220V 50Hz

  技术特征详解

  1.微电脑控制与LCD显示:设备采用微电脑控制系统,配备LCD液晶显示屏和PVC操作面板,操作简便,用户可以快速、直观地查看检测数据和结果。

  2.配置微型打印机:自带微型打印机,能够快速打印方块电阻值、厚度值和均匀度等重要数据,便于记录和归档。

  3.数据实时显示与试验结果记忆功能:实时显示电阻值和厚度值,设备还具备试验结果记忆功能,方便用户随时查询历史数据。

  4.温度显示功能:设备具备温度显示功能,确保在不同环境条件下测试的准确性和稳定性。

  5.高精度接触式测量:采用高精度接触式测量技术,确保测试数据的精准性和可靠性。

  参考标准

  GB/T 15717-1995《真空金属镀层厚度测试方法电阻法》是此设备设计的基础标准,确保设备符合国际公认的测试方法和精度要求。

  应用领域与结论

  三泉中石镀铝膜测厚仪作为一款专业的测量设备,广泛应用于包装材料、电子产品、光学薄膜等行业,为用户提供了一种可靠的质量控制解决方案。通过精确测量镀铝膜的厚度和均匀度,帮助用户优化生产工艺,提高产品质量,降低生产成本,增强市场竞争力。


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