薄膜数显测厚仪 CHY-S：高效精准的厚度测量解决方案

　　在薄膜和其他材料的生产过程中，精确测量材料厚度至关重要。济南三泉中石推出的薄膜数显测厚仪 CHY-S，是一款专为薄膜、纸张、纸板等材料设计的厚度检测仪器，能够为生产质量提供可靠的保障。该设备采用先进的接触式测试原理，结合精密传感技术，实现高效且精准的厚度测量。

　　测试原理

　　薄膜数显测厚仪 CHY-S 的工作原理是通过自动化接触式测试。测量时，仪器的测量头自动降落在预定的试样上，通过固定的压力和接触面积对试样进行厚度检测。这种方式确保了每次测量的一致性，无论是薄膜、纸张还是纸板，都能够获得准确的厚度数据。

薄膜数显测厚仪

　　技术参数

　　测量范围：0-10mm(可根据用户需求定制不同量程)

　　分辨率：1μm

　　测量速度：10次/分钟(可调)

　　测量压力：依据材料类型设定

　　纸板：20±0.5kPa

　　薄膜：17.5±1kPa

　　纸张：100±1kPa

　　接触面积：依据材料类型选择

　　薄膜：50mm²

　　纸张：200mm²

　　纸板：1000mm²

　　机器尺寸：450mm(长)×340mm(宽)×450mm(高)

　　重量：28Kg

　　工作温度：15℃-50℃

　　相对湿度：≤80%，无凝露

　　试验环境要求：无震动、无电磁干扰

　　工作电源：220V 50Hz

　　产品优势

1. 　　精度高：CHY-S的测量分辨率达1μm，确保了即便是极薄的材料，也能实现精准测量。

2. 　　多材料兼容：无论是薄膜、纸张还是纸板，都可以根据不同材料的特性选择相应的压力和接触面积，保证了测量结果的准确性和一致性。

3. 　　自动化操作：测量头自动降落设计，不仅减少了人为干预，提高了测量效率，同时也降低了操作难度，使得整个测量过程更加简便。

4. 　　可调测量速度：用户可以根据具体需求调整测量速度，适应不同批次材料的检测需求。

5. 　　稳定的测试环境：CHY-S对试验环境的要求较高，确保测试过程不受外界震动或电磁干扰的影响，为精确测量提供了保障。

　　应用领域

　　薄膜数显测厚仪 CHY-S 被广泛应用于塑料薄膜、包装材料、造纸、印刷等行业。其高精度和多功能特性使得该仪器成为质量检测和研究开发领域的理想选择。无论是进行生产过程中的质量控制，还是实验室中的研发分析，CHY-S都能为用户提供高效的厚度测量解决方案。

　　济南三泉中石致力于为各行各业提供高品质的检测仪器，CHY-S薄膜测厚仪正是这一理念的体现。通过该仪器，用户可以确保其生产的材料符合高标准的质量要求，助力产品在市场中的竞争力提升。