薄膜测厚仪测试原理及操作方法介绍

　　薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离。对于微电子薄膜而言，如光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。除此之外，薄膜的厚度也会直接影响到薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等。

　　薄膜测厚仪

　　三泉中石CHY-U薄膜测厚仪是一种常用的薄膜厚度检测方法，采用机械接触式测量标准，适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度准确测量，误差小，操作简单方便，满足GB/T 6672《塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法》等标准。

　　测试原理

　　将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

　　薄膜测厚仪操作方法介绍

　　根据国标中的要求，对同一张薄膜选取10个测试点，薄膜厚度测量方法如下：

　　1、将两个激光传感器分装在薄膜试样的上下方，把传感器固定在支架上。

　　2、打开仪器，设置参数，放置对比量块，点击“确认”。

　　3、取走滑块，重新设置与步骤(2)相同的参数，放入薄膜试样。

　　4、分别取10个不同的点，位置尽量错开，避免因距离太近影响数据。

　　5、测量值通过串口传输到计算机，再通过在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。

　　济南三泉中石实验仪器有限公司是一家专注于实验室分析检测仪器研发和销售的高科技创新企业，专注于为质检药检系统、食品行业、药品行业、包装印刷行业、胶黏剂行业、家电行业等提供包装材料科学试验仪器和全面质量控制解决方案。如需了解更多包装检测仪器，敬请关注济南三泉中石或联系我们!